一、方案背景

航天液壓、伺服、閥類、管路及精密組件在清洗過程中，液體中的微米級不溶性顆粒易造成部件卡滯、磨損、密封失效、流道堵塞，直接影響飛行可靠性與在軌壽命。為滿足航天級清潔度要求，需對清洗液顆粒進(jìn)行全過程定量管控、可檢測、可追溯，形成標(biāo)準(zhǔn)化檢測與控制方案。

二、方案目標(biāo)

1. 明確清洗液顆粒檢測方法與判定標(biāo)準(zhǔn)，滿足NAS 1638、ISO 4406、GJB 5964等航天清潔度要求。

2. 實現(xiàn)對清洗液中≥0.5μm、≥1μm、≥5μm、≥15μm等關(guān)鍵粒徑顆粒精準(zhǔn)計數(shù)與分級管控。

3. 建立“取樣—檢測—判定—處置"閉環(huán)流程，確保終洗合格后方可轉(zhuǎn)入下道工序。

4. 形成可重復(fù)、可驗證、可歸檔的檢測數(shù)據(jù)與實驗結(jié)論。

三、儀器和試劑

1. 主要儀器

- 普洛帝液體顆粒計數(shù)器（第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，雙精準(zhǔn)流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對清洗劑、半導(dǎo)體、超純水、電子產(chǎn)品、平板玻璃、硅晶片、煤炭粒度等，產(chǎn)品的在線或離線顆粒監(jiān)測和分析遮光式/光散射法，支持0.5μm～100μm粒徑）

- 超純水機（電阻率≥18.2MΩ·cm）

- 潔凈取樣瓶（預(yù)先清洗、烘干、顆粒空白驗證）

- 超聲波清洗機、潔凈工作臺（Class 100/Class 10）

- 電子天平、干燥箱、過濾裝置（配套濾膜）

- 恒溫恒濕環(huán)境監(jiān)測儀  

四、檢測步驟

1. 環(huán)境與空白驗證

在潔凈工作臺內(nèi)，先對空白液進(jìn)行顆粒檢測，確認(rèn)本底顆粒滿足空白要求。

2. 取樣

對清洗過程中新液、循環(huán)液、終洗液分別規(guī)范取樣，避免外界污染。

3. 儀器校準(zhǔn)與排氣

使用標(biāo)準(zhǔn)粒子校準(zhǔn)顆粒計數(shù)器，排除管路氣泡。

4. 正式檢測

取定量體積清洗液，儀器自動檢測并記錄各粒徑顆粒數(shù)。

5. 平行樣復(fù)測

每組樣品至少平行檢測2次，數(shù)據(jù)偏差滿足要求方可采用。

6. 數(shù)據(jù)記錄與判定

記錄粒徑分布、顆粒濃度，對照航天等級判定合格/不合格。

7. 后處理

清洗儀器管路，歸位樣品，保留檢測記錄。

五、檢測數(shù)據(jù)

六、實驗結(jié)論

1. 本方案可穩(wěn)定、準(zhǔn)確完成航天部件清洗液中不溶性顆粒的定量檢測。

2. 本次檢測樣品顆粒濃度滿足航天關(guān)鍵部件清潔度管控指標(biāo)，可放行使用。

3. 建議將本方案固化為工序作業(yè)指導(dǎo)書，實現(xiàn)新液、循環(huán)液、終洗液全流程監(jiān)控。

4. 持續(xù)空白驗證與儀器校準(zhǔn)，可保證長期檢測可靠性與數(shù)據(jù)可追溯性。